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概述：
本仪器采用四探针接触式原理，用于测量导电膜层的面电阻，又称方块电阻。
测量对象：Low-E导电镀膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃
透明导电薄膜材料
人工合成金属片及导电纸
其他导电材料
特性：
高精度接触测量；
专用于大面积平板镀膜测量
探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易划伤膜层；
多个量程范围可自动选择；
校准数据和测量结果自动存储；
串行数据接口；
以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据
技术参数：
测量方法：四探针式测量；
测量速度：2秒；
测量范围:0～200K Ohm；
操作温度：0～50℃；
电池持续时间：4～6小时；
外形尺寸300mm×290mm×120mm；
重量：约2.7kg。
说明：
配套附件包括：测量探头SDKR-13一个、测量探头SDKR-25一个、校准箱E-500一个、串行数据线一根。
生产商：德国NAGY