概述:
本仪器采用四探针接触式原理,用于测量导电膜层的面电阻,又称方块电阻。
测量对象:Low-E导电镀膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃
透明导电薄膜材料
人工合成金属片及导电纸
其他导电材料
特性:
高精度接触测量;
专用于大面积平板镀膜测量
探针直径大,针头光滑,能伸缩,不易划伤膜层;
多个量程范围可自动选择;
校准数据和测量结果自动存储;
串行数据接口;
以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据
技术参数:
测量方法:四探针式测量;
测量速度:2秒;
测量范围:0~200K Ohm;
操作温度:0~50℃;
电池持续时间:4~6小时;
外形尺寸300mm×290mm×120mm;
重量:约2.7kg。
说明:
配套附件包括:测量探头SDKR-13一个、测量探头SDKR-25一个、校准箱E-500一个、串行数据线一根。
生产商:德国NAGY